JNCM 2012 - 1as Jornadas Nacionais de Caracterização de Materiais

JNCM 2012
1as Jornadas Nacionais de Caracterização de Materiais
FCT/UNL, Campus de Caparica, 10-12 Setembro 2012, Edifício do CENIMAT - Centro de Investigação de Materiais

 

A caracterização de materiais é tão diversa quanto a variedade de materiais existentes e as suas aplicações. Materiais cerâmicos, metálicos, poliméricos, materiais para a eletrónica e microeletrónica, biomateriais, nanomateriais, materiais compósitos e materiais inteligentes, são utilizados nas mais diversas aplicações, que vão desde a Construção Civil e Obras Públicas até à Medicina, passando pelas Indústria Automóvel e Aeroespacial e de Telecomunicações, entre muitas outras.

Tal diversidade, em conjunto com os avanços da ciência e das tecnologias de produção/transformação, e as exigências da sociedade atual, conferem à caracterização de materiais um destaque incontornável. O recurso às diversas técnicas disponíveis é indispensável na investigação e desenvolvimento de novos materiais e suas aplicações. Igualmente, a nível industrial, a caracterização de materiais é crítica para o controlo de processos de fabrico, produtos finais e ainda na perspetivação e avaliação do comportamento dos materiais durante o seu período de vida útil.

Dependendo do material, processo de fabrico e utilização, as solicitações são diversas e vão das propriedades mecânicas às elétricas, físicas, químicas, óticas, etc. A caracterização dos materiais tem evoluído num processo interativo entre as necessidades de inovação, e os avanços nos processos de fabrico e nas tecnologias de caracterização.

Nesse sentido, estas jornadas, pretendem ser uma cimeira interdisciplinar, a qual transcende os domínios publico, privado, institucional, industrial ou académico. Serão apresentados e discutidos os mais recentes avanços nas diversas técnicas disponíveis para caracterizar os diferentes tipos de materiais.

Tópicos
A.    Caracterização química e estrutural: IV, RMN, GPC, Difração de Raios X,
        Fluorescência de Raios X
B.    Caracterização microscópica e de superfície: microscópio ótico, SEM,
       TEM, AFM, XPS/Auger, análise de imagem
C.    Propriedades morfológicas e texturais: SLS, DLS, LS, BET, Porosímetria,
       Porometria, Caracterização de Catalisadores
D.    Caracterização de ângulos de contacto e tensões superficiais
E.    Propriedades térmicas; DSC, DTA, TG, TMA
F.    Caracterização reológica: Reometria Rotacional, Extensional e Capilar,
       Reo-ótica
G.   Propriedades mecânicas, DMA
H.    Propriedades elétricas e dielétricas
Durante as jornadas serão ministrados cursos de forma gratuita. Estes cursos funcionarão em paralelo com as apresentações e terão a duração de meio dia cada.
A calendarização e os oradores serão brevemente indicados. Dependendo dos participantes e/ou dos oradores,os cursos poderão ser em Português ou Inglês.
Lista dos cursos a ministrar:
Análise Térmica (TG, DSC, STA)
Análise Térmica (DMA, DEA)
Ângulos de Contacto e  Tensão Superficial
Porosimetrias , BET, Quimisorção
GPC
XRD
XRF
Reologia
AFM
Análise de Imagem (morfologia)
Difracção Laser (granulometria)
DL

 

Comissão de Organização:

Maria Teresa Cidade (FCT/UNL) (Chairperson)

Catarina Rosa Leal (ISEL/IPL)
Pedro Almeida (ISEL/IPL)
Rui Soares  (Paralab)

Comissão Científica:

João Moura Bordado (IST/UTL)
José Covas (Univ. Minho)
Luís Filipe Malheiros (FEUP)
Maria Helena Gil  (Univ. Coimbra)
Maria Teresa Cidade (FCT/UNL)
Paula Vilarinho (Univ. Aveiro)
Paulo Bártolo (Inst. Pol. Leiria)
Rodrigo Martins (FCT/UNL)

 

Aqui poderá fazer download do Programa Científico.